純串行接口除輸出增量信號(hào)外，也能通過EnDat 2.2接口傳輸位置值信息。正弦掃描信號(hào)在讀數(shù)頭中被高倍頻細(xì)分且其計(jì)數(shù)功能將細(xì)分的信號(hào)轉(zhuǎn)換成位置值。與所有增量式編碼器一樣，通過參考點(diǎn)確定位置。這些編碼器需要用距離編碼參考點(diǎn)的磁柵鼓，方便編碼器“回零”。EnDat 2.2除具有串行傳輸位置值優(yōu)點(diǎn)外，還有其他大量優(yōu)點(diǎn)，例如自動(dòng)配置，監(jiān)測和診斷功能以及高可靠性地傳輸數(shù)據(jù)。

永磁的MAGNODUR磁柵由磁電傳感器掃描。磁電傳感器由磁阻軌組成，磁阻隨磁場變化而變化。當(dāng)電壓作用于該傳感器和磁柵鼓相對讀數(shù)頭運(yùn)動(dòng)時(shí)，流過的電流基于磁場被調(diào)制。磁電傳感器的特別排列和用玻璃基體的磁電傳感器確保信號(hào)的高質(zhì)量。此外，由于掃描面積大，因此噪聲波被過濾。這些都是減小單信號(hào)周期內(nèi)位置誤差的*條件。磁阻掃描原理測量基準(zhǔn)掃描掩膜未圖示B+和B的磁電傳感器一個(gè)單獨(dú)磁軌的磁結(jié)構(gòu)形成參考點(diǎn)信號(hào)。它使位置值到一個(gè)測量步距。磁電掃描通常用于中等精度應(yīng)用，或被加工件直徑相對磁柵鼓直徑較小的應(yīng)用。威斯特小編敬上

增量測量法的光柵由周期性刻線組成。位置信息通過計(jì)算自某點(diǎn)開始的增量數(shù)（測量步距數(shù)）獲得。軸速通過一定時(shí)間內(nèi)的位置變化通過數(shù)學(xué)計(jì)算確定。由于必須用參考點(diǎn)確定位置值，因此磁柵鼓還有一個(gè)參考點(diǎn)軌或多個(gè)參考點(diǎn)。參考點(diǎn)確定的磁柵尺位置值可以到一個(gè)測量步距。因此，必須通過掃描參考點(diǎn)建立基準(zhǔn)點(diǎn)或確定上次選擇的原點(diǎn)。對于距離編碼參考點(diǎn)的磁柵鼓，只需掃描兩個(gè)相鄰參考點(diǎn)就能建立位置值。 

角度測量精度主要取決于磁柵質(zhì)量，磁柵基體穩(wěn)定性。掃描質(zhì)量，信號(hào)處理電路質(zhì)量，磁柵相對軸承的偏心量，軸承誤差，和與被測軸的連接。這些影響因素包括編碼器的誤差和應(yīng)用方面的誤差。為了評(píng)估zui終總誤差，必須考慮其中每一項(xiàng)影響因素。單信號(hào)周期內(nèi)位置誤差±u由掃描質(zhì)量決定，對帶脈沖波形濾波或計(jì)數(shù)電子電路的編碼器，由信號(hào)處理電子電路質(zhì)量決定。但對正弦輸出信號(hào)的編碼器，信號(hào)處理電子系統(tǒng)的誤差由后續(xù)電子電路決定。

海德漢公司的光學(xué)掃描型光柵尺或編碼器的測量基準(zhǔn)都是周期刻線－光柵。這些光柵刻在玻璃或鋼材基體上。大長度測量用的光柵尺基體為鋼帶。海德漢公司用特別開發(fā)的光刻工藝制造精密光柵。
AURODUR：在鍍金鋼帶上蝕刻線條，典型柵距40 μmMETALLUR：抗污染的鍍金層金屬線，典型柵距20 μmDIADUR：玻璃基體的超硬鉻線（典型柵距20 μm）或玻璃基體的三維鉻線格柵（典型柵距8 μm）
SUPRADUR相位光柵：光學(xué)三維平面格柵線條，*抗污能力，典型柵距不超過8μmOPTODUR相位光柵：光學(xué)三維平面格柵線條，超高反光性能，典型柵距不超過2μm。

測量法是指編碼器通電時(shí)就可立即得到位置值并隨時(shí)供后續(xù)信號(hào)處理電子電路讀取。無需移動(dòng)軸執(zhí)行參考點(diǎn)回零操作。位置信息來自一系列碼構(gòu)成的光柵刻線。單獨(dú)的增量刻軌信號(hào)通過細(xì)分生成位置值，同時(shí)也能生成供選用的增量信號(hào)。增量測量法的光柵由周期性刻線組成。位置信息通過計(jì)算自某點(diǎn)開始的增量數(shù)（測量步距數(shù)）獲得。由于必須用參考點(diǎn)確定位置值，因此在光柵尺或光柵尺帶上還刻有一個(gè)帶參考點(diǎn)的軌道。參考點(diǎn)確定的光柵尺位置值可以到一個(gè)測量步距。